فهرس المقالات حافظه STT-RAMقابلیت اطمیناننوسانات فرایند ساختخطای نوشتنسربار توان حرية الوصول المقاله صفحة الملخص نص كامل 1 - کاهش احتمال خطای نوشتن در حافظههای STT-RAM مبتنی بر اثر دمایی و با بهرهگیری از روش دوگانسازی منابع ولتاژ حمیدرضا زرندی شاهرخ جلیلیان